Přejděte přímo do hlavní navigace Přímý přístup k obsahu Přejít na subnav

Měření tloušťky pomocí snímačů polohy

Snímače polohy mají při měření tloušťky široké uplatnění v celé řadě aplikací. V zásadě se rozlišuje mezi nedestruktivním/destruktivním, bezkontaktním/kontaktním a jednostranným/oboustranným měřením tloušťky. Žádná z technik měření tloušťky, které používají systémy společnosti Micro-Epsilon, neprodukuje záření, a tudíž se na ně nevztahují nařízení týkající se radiace. Měření tloušťky se provádí kontaktními i bezkontaktními snímači, přičemž bezkontaktní techniky nabízejí výhody z hlediska přesnosti a rychlosti měření. Dále se rozlišuje mezi jednostranným a oboustranným měřením tloušťky. Oboustranná měření tloušťky se provádějí za použití alespoň jednoho páru snímačů, které jsou společně instalovány na jedné ose. Tato dvojice snímačů měřený předmět snímá synchronně. Rozdíl mezi naměřenými výsledky (C-A-B) udává tloušťku měřeného předmětu. Jednostranná měření tloušťky je nutné provádět pouze bezkontaktními snímači. Při těchto činnostech je předmět měřen pouze jedním snímačem, přičemž se zaznamenává pouze část jeho tloušťky (např. tloušťka vrstvy) nebo jeho celková tloušťka. Měření tloušťky se používá zejména v rámci řízení procesů a kontrol kvality, např. k řízení vytlačovacích systémů nebo ke komplexní kontrole průměrů trubek.